Doações 15 de Setembro 2024 – 1º de Outubro 2024 Sobre a angariação de fundos

Растровая электронная микроскопия и рентгеновский...

Main
Physics
Растровая электронная микроскопия и...

Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ:

Гоулдстейн Дж. (Goldstein J.), и др.

0 / 0

Quanto Você gostou deste livro?

Qual é a qualidade do ficheiro descarregado?

Descarregue o livro para avaliar a sua qualidade

De que qualidade são os ficheiros descarregados?

Categorias:

Volume:

т.1

Ano:

1984

Editora:

Мир

Idioma:

russian

Páginas:

305

Arquivo:

DJVU, 7.42 MB

IPFS:

,

russian, 1984

Ler online

A converter para

Conversão para falhou

Você pode estar interessado em

Папко, Людмила Федоровна — Физико-химические методы исследования неорганических веществ и материалов

Гладков, В. Е. — Вакуумная и плазменная электроника

Пашкеев, И. Ю. (авт.) — Растровая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ

Бычков Петр Степанович, — Физико-химические методы исследования. Методические указания к лабораторным работам : учебно-методическое пособие

Деркач В. — Электроннозондовые устройства

Э.В. Суворов — Физические основы экспериментальных методов исследования реальной структуры кристаллов : учеб. пособие.

Э.В. Суворов — Методы исследования реальной структуры и состава материалов: Учебно- методический комплекс дисциплины.

Вольдсет Р. — Прикладная спектрометрия рентгеновского излучения.

Козионов А.Е. — Исследование горных пород с помощью комплекса сканирующей микроскопии и энерго-дисперсионного микрозондирования с применением алгоритмов количественной оценки минеральных компонентов и пустотного пространства породы на микроуровне

Суворов Э. В. — Физические основы экспериментальных методов исследования реальной структуры кристаллов: учеб. пособие

Сахаров Н. В., Фаддеев М. А. — Растровая электронная микроскопия: Учебное пособие

Ищенко А. А., Лукьяно А. Е. — Методы анализа поверхности. Часть 1. Методы локального анализа иэлектронная микроскопия: Учебное пособие

Иванов В. К., Баранчиков А. Е., Носикова Л. А. — Исследование материалов методами РЭМ и БЭТ: Учебное пособие

Сахаров Н. В., Фаддеев М. А. — Растровая электронная микроскопия: Учебное пособие

Суворов Э. В. — Физические основы экспериментальных методов исследования реальной структуры кристаллов: учеб. пособие

— Сборник. Сильноточные импульсные электронные пучки в технологии

Ряд авторов — Сильноточные импульсные электронные пучки в технологии

Малви Т. — Количественный электронно-зондовый микроанализ.

Кальнер В.Д., Зильберман А.Г. — Практика микрозондовых методов исследования металлов и сплавов.

Васичев Б.Н. — Электрнно-зондовый микроанализ тонких пленок.

— МЕТОДЫ И ОБОРУДОВАНИЕ КОНТРОЛЯ ПАРАМЕТРОВ ТЕХНОЛОГИЧЕСКИХ ПРОЦЕССОВ ПРОИЗВОДСТВА НАНОГЕТЕРОСТРУКТУР И НАНОГЕТЕРОСТРУКТУРНЫХ МОНОЛИТНЫХ ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ

Ю.А. Юраков — Исследование наноструктурированных материалов методом растровой электронной микроскопии

Г. М. Зеер — Новые конструкционные материалы : учеб.-метод. пособие для практич. занятий

Кулаков Ю. А. — Электронная микроскопия

Смирнов С.В. — Методы и оборудование контроля параметров технологических процессов производства наногетероструктур и наногетероструктурных монолитных интегральных схем

Смирнов С.В. — Методы и оборудование контроля параметров технологических процессов производства наногетероструктур и наногетероструктурных монолитных интегральных схем

Николичев Д.Е., Боряков А.В. — Локальная диагностика состава полупроводниковых наносистем методом сканирующей оже-микроскопии

Батаев А.А., Батаев В.А. и др. — Физические методы контроля качества материалов

Удовиченко С.Ю. — Пучково-плазменные технологии для создания материалов и устройств микро - и наноэлектроники. Часть 2-я

Заблоцкий А.В., Тимофеев А.А., Коростылёв Е.В., Кузьмин А.А. — Электронная микроскопия в нанодиагностике

Биркс Л.С. — Рентгеновский микроанализ с помощью электронного зонда

Петров А.А. — Электронная и ионная спектроскопия материалов и структур микро - и оптоэлектроники

Лобко А.С. — Экспериментальные исследования параметрического рентгеновского излучения

Заболеев-Зотов В.В. — Современные способы исследования металлов

коллектив авторов — Методы и приборы для анализа электронных компонентов в микро - и наномасштабе

Frases chave

электронов

излучения

рентгеновского

изображения

детектора

электроны

отраженных

спектрометра

контраст

кристалл

импульсов

электронного

детектор

поверхности

дисперсией

вторичных

контраста

изображение

элементов

взаимодействия

энергией

электрон

элемента

электрона

излучение

поглощения

рассеяния

интенсивности

атомного

значения

образцом

изображении

распределение